- Pilih sampel dengan materi logam, plastik, gelas bahkan kayu yang telah dilapis dengan galvanis atau electroplating.
- Lakukan pengukuran dengan metode analisa standar yang diatur dari Olympus, atau metode yang telah disesuaikan terhadap aplikasi spesifik pelanggan dengan opsi kalibrasi satu titik.
- Alat Vanta dengan cepat dan akurat mengukur hingga 3 lapisan pada tingkat satuan mikron.
Manfaat Utama Vanta:
- Portabel sehingga dapat digunakan langsung di lapangan maupun dalam ruangan.
- Tidak perlu memotong sampel.
- Waktu pengukuran cepat, kurang dari 1 menit.
- Termasuk metode pengukuran standar dari pabrikan sehingga alat dapat langsung digunakan.
- Pengguna dapat membuat sendiri metode pengukuran khusus sesuai kebutuhan.
- Pengoperasian mudah dan tidak membutuhkan operator dan analisis khusus.
- Penyimpanan data otomatis dalam alat. Data dapat dipindahkan melalui kabel atau wifi ke komputer untuk membuat laporan.
VANTA XRF
Mengukur ketebalan lapisan galvanis atau electroplating
Alat analisa XRF genggam Olympus Vanta sekarang tersedia dengan fungsi pengukuran ketebalan pelapis galvanis dan electroplating. Metode ini dapat mengukur ketebalan dengan satuan mikron dalam hitungan detik. Alat ini dapat mengukur hingga tiga lapisan pada semua jenis material antara lain logam, plastik, kaca, dan bahkan kayu. Berbagai macam industri perlu mengukur ketebalan lapisan. Misalnya, seng dapat menghambat korosi dan tahan lembab, menjadikannya berguna sebagai pelapis untuk berbagai logam. Pedoman ketebalan untuk lapisan seng perlu ditentukan dan diverifikasi untuk menjadi pelindung yang tepat. Lapisan rekayasa umum lainnya termasuk nikel dan kromium, keduanya digunakan karena ketahanan korosinya.
Fitur VANTA:
Konfigurasi unsur: Unsur yang tersedia adalah unsur-unsur dengan nomor atom lebih besar dari dan termasuk Titanium (Ti). Unsur dengan nomor atom kurang dari Ti belum didukung pada saat ini.
Opsi kalibrasi satu titik empiris: Pelanggan dapat menggunakan sampel bersertifikasi untuk membuat kalibrasi khusus.
Jumlah lapisan: Alat Vanta dapat mengukur ketebalan hingga tiga lapisan, namun lapisan tersebut harus cukup tipis sehingga sinar-X dapat lolos ke detektor dari lapisan bawah.
Ketebalan maksimum lapisan: Bagan di bawah memberikan perkiraan ketebalan maksimum unsur pelapis. Ini mengasumsikan tidak ada gangguan dari efek antar elemen. Jika elemen pelapis dan elemen substrat memiliki energi sinar-X yang serupa, hasilnya mungkin berbeda.
Material dasar: Semua bahan substrat dapat dianalisis selama tidak mengandung unsur yang sama dengan bahan pelapis.
Untuk info lengkap silahkan hubungi kami
